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視覺檢測�(jī)在硅晶圓檢測中的�(yīng)�

2020-10-09 10:41:32 �(zé)任編輯: 瑞智光電 0

    照相�(jī)是視覺檢測機(jī)中必不可少的部件,短波紅外(SWIR)照相機(jī)使用于紅外顯微成�,可檢驗(yàn)半導(dǎo)體制作過程中的缺�。電子設(shè)備在�(xiàn)如今�(xiàn)代科技中已十分遍及。每�(gè)人很有可能在�(yīng)用電子設(shè)備時(shí),直接就遇到并應(yīng)用了硅晶��


    硅——半�(dǎo)體的�(guān)鍵材�

視覺檢測機(jī)


    晶圓是一種薄的半�(dǎo)體材料基材,用于制作電子一體式電路。半�(dǎo)體材料品種多�,電子器材中最常用的一種半�(dǎo)體材料是硅(Si�。硅晶圓是一體式電路中的重點(diǎn)部分。它由高純度、簡直無缺陷的單晶硅棒利用切片制成,用作制作晶圓�(nèi)和晶圓表面上微電子器材的基板。晶圓要利用多�(gè)微加工工藝過程才能制成,例如掩膜、蝕刻、摻雜和金屬��


   集成電路(IC)基本成為全部電子設(shè)備的要緊部件。IC是將很多電子電路和元件的微型�(jié)�(gòu)移植印制到半�(dǎo)體晶體(例如硅Si)的材料的表面上。元件、電路和基材均制作在單�(gè)晶圓�。數(shù)以百�(jì)的一體式電路IC可一起在單�(gè)薄硅晶圓上制�,隨后切割成多�(gè)單獨(dú)的IC芯片。硅晶圓裂紋�(huì)損害最終商品品�(zhì)�


    視覺檢測�(jī)檢驗(yàn)硅晶圓會(huì)堆集在成�、切�、研�、蝕刻、拋光過程中的殘余應(yīng)�。因而,硅晶圓在整�(gè)制作過程中很有可能發(fā)生裂�,如果裂紋未被檢�(yàn)到,那些含有裂紋的晶圓就在后�(xù)生產(chǎn)制造時(shí)期中�(fā)生無用的商品。裂紋也很有可能在將一體式電路切割成單�(dú)IC�(shí)�(fā)�。因而,若要下落制作成本,在�(jìn)一步的加工�,檢查原材料基材的雜�(zhì)、裂紋和在加工過程中檢驗(yàn)缺陷十分�(guān)��