2020-11-06 11:18:24 �(zé)任編輯: 瑞智光電 0
視覺檢測(cè)�(shè)備作為如今工�(yè)自動(dòng)化產(chǎn)�(yè)的重要品�(zhì)檢驗(yàn)工具,它的質(zhì)量同樣是十分重要�。而影響視覺檢�(cè)�(shè)備質(zhì)量的重要因素之一就是光源。今�,瑞智光電小編就來給大家詳細(xì)剖析一下視覺檢�(cè)�(shè)備光��
我們先來看看視覺檢�(cè)�(shè)備光源的分類,光源主要可以分為哪幾類��
�(huán)形光源供�(yīng)不同照射角度、不同顏色組合,更能突出物體的三維信息內(nèi)�;高密度LED陣列,高亮度;多種緊湊設(shè)�(jì),節(jié)省安裝空�;解決對(duì)角照射陰影問�;可選配漫射板導(dǎo)�,光線均勻擴(kuò)�。應(yīng)用領(lǐng)域:PCB基板檢測(cè),IC元件檢測(cè),顯微鏡照明,液晶校�,塑膠容器檢�(cè),集成電路印字檢�
用高密度LED陣列面供�(yīng)高強(qiáng)度背光照�,能突出物體的外形輪廓特�(diǎn),尤其適合作為顯微鏡的載物臺(tái)。紅白兩用背光源、紅�(lán)多用背光�,能�(diào)配出不同顏色,達(dá)到不同被�(cè)物多色規(guī)�。應(yīng)用領(lǐng)域:�(jī)械零件規(guī)格的�(cè)�,電子元件、IC的外型檢�(cè),膠片污�(diǎn)檢測(cè),透明物體劃痕檢測(cè)��
條形光源是較大方形結(jié)�(gòu)被測(cè)物的首選光源;顏色可根據(jù)要求搭配,自由組�;照射角度與安裝自由可調(diào)。應(yīng)用領(lǐng)域:金屬表面檢查,圖像掃描,表面裂縫檢測(cè),LCD面板檢測(cè)等�
同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影,從而減少干擾;部分采用分光鏡設(shè)�(jì),減少光損失,提高成像清晰度,均勻照射物體表靀應(yīng)用領(lǐng)域:系列光源最適合用于反射度極高的物體,如金屬、玻�、膠�、晶片等表面的劃傷檢�(cè),芯片和硅晶片的破損檢測(cè),Mark�(diǎn)定位,包裝條碼識(shí)別�
不同角度的三色光照明,照射凸顯焊錫三維信息內(nèi)�;外加漫射板�(dǎo)�,減少反光;不同角度組合;應(yīng)用領(lǐng)域:用于電路板焊錫檢�(cè)�
球積分光源具有積分效果的半球面內(nèi)�,均勻反射從底部360度發(fā)射出的光�,使整�(gè)圖像的照度十分均勻。應(yīng)用領(lǐng)域:合于曲面,表面凹凸,弧形表面檢測(cè),或金屬、玻璃表面反光較�(qiáng)的物體表面檢�(cè)�
超高亮度,采用柱面透鏡聚光,適用于各種流水線連續(xù)檢測(cè)�(chǎng)合。應(yīng)用領(lǐng)域:陣相�(jī)照明專用,AOI專用�
大輸出功率LED,體積小,發(fā)光強(qiáng)度高;光纖鹵�?zé)舻奶娲罚绕溥m合作為鏡頭的同軸光源�;高效散熱裝�,�(jìn)一步提高光源的使用壽命。應(yīng)用領(lǐng)域:適合�(yuǎn)心鏡頭使�,用于芯片檢�(cè),Mark�(diǎn)定位,晶片及液晶玻璃底基校正�
四邊配置條形�,每邊照明獨(dú)立可�;可根據(jù)被測(cè)物規(guī)定調(diào)節(jié)所需照明角度,適用性廣。應(yīng)用案例:CB基板檢測(cè),IC元件檢測(cè),焊錫檢�,Mark�(diǎn)定位,顯微鏡照明,包裝條碼照�,球形物體照明等�
�(duì)位速度�;視�(chǎng)大;精密度高;體積小,便于檢�(cè)集成;亮度高,可選配輔助�(huán)形光源。應(yīng)用領(lǐng)域:VA系列光源是自�(dòng)式電路板印刷�(jī)�(duì)位的專用光源�
接下�,我們繼�(xù)�(duì)視覺檢測(cè)�(shè)備光源剖�,接著我們來看看,視覺檢�(cè)�(shè)備光源該怎么選擇�
1、必須前景與背景更大的對(duì)比度?–考慮用黑白相�(jī)與彩色光�
2、環(huán)境光的問�?–嘗試用單色光源,配一�(gè)濾鏡
3、閃光曲�?–嘗試用散射圓頂�
4、閃�,平�,但粗糙的表�?–嘗試用同軸散射�
5、看表面的形狀?–考慮用暗視場(chǎng)(低角度�
6、檢�(cè)塑料的時(shí)候–嘗試用紫外或紅外光
7、必須通過反射的表面看特點(diǎn)?–嘗試用低角度線光源(暗視場(chǎng)�
8、組合光源有�(shí)候也能解決問�
9、頻閃能夠產(chǎn)生比常亮照明20倍強(qiáng)的光�